Найти преступника сложно, а еще сложнее собрать надежную доказательную базу, которая припрет его к стенке и не даст возможности отпереться от обвинений. Часто на местах трагедий остаются стреляные гильзы, на которых потенциально могут быть отпечатки пальцев преступника. Современные методы криминалистики не могут с достаточной точностью считать их из-за того, что поверхность гильзы не ровная, а выпуклая. Но теперь у преступников стало гораздо меньше шансов выскользнуть из рук правосудия.
Ученые из Университета Ноттингема предложили крайне интересный метод анализа таких поверхностей на предмет наличия отпечатков. Стоит понимать всю сложность задачи. Во время выстрела патрон испытывает нагрузки в виде трения о ствол, подвергается воздействию горячих пороховых газов. Все это стирает опечатки, а нанесенный в момент касания поверхности гильзы пот исчезает. Примененный исследователями метод ToF-SIMS позволяет получить четкие изображения отпечатков даже на самых сложных поверхностях.
Суть новой методики заключается в облучении поверхности гильзы пучком положительных ионов. Энергия частиц достигает 30 кэВ. Они способны освободить вторичные ионы из любого материала, с которым сталкиваются. На следующей стадии ионы подвергаются ускорению и время их полета анализируется с использованием соотношения массы к заряду. Образовавшийся спектр точно указывает на химический состав конкретной точки поверхности. Анализируя множество точек, можно получить точную картину, соответствующую отпечатку.
Метод позволяет выделять отпечатки даже тогда, когда это невозможно сделать другими современными методиками, применяющимися в криминалистике. В течение 7 месяцев команда исследователей проводила эксперименты, выделяя отпечатки с револьверных гильз. В результате была доказана его высокая точность и пригодность для использования в реальной жизни.